IC器件測(cè)試插座

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

GU41-10B320-T200 IC器件測(cè)試插座(高頻測(cè)試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)，適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座。

產(chǎn)品型號(hào)：GU41-10B320-T200

更新時(shí)間：2025-05-13

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：1528

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

功耗測(cè)試儀

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池

GU41-10B320-T200

IC器件測(cè)試插座示意圖

IC器件測(cè)試插座、高頻測(cè)試插座

　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)

　　適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座

　　1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值

　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競(jìng)爭(zhēng)力-交貨時(shí)間

　　短-溫度范圍(典型值)

　　-40至+150℃(典型值)

　　[可接受的器件]

　　FTGB196(賽靈思)

　　256針FBGA(英特爾)

　　FT256/FTG256(賽靈思)

　　FG256/FGG256(賽靈思)

　　FG320/FGG320(賽靈思)

　　[可接受的器件]

　　FTGB196(賽靈思)

　　256針FBGA(英特爾)

　　FT256/FTG256(賽靈思)

　　FG256/FGG256(賽靈思)

　　FG320/FGG320(賽靈思)

　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)

　　適用于BGA(FPGA),LGA測(cè)試和老化插座

　　1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值

　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競(jìng)爭(zhēng)力-交貨時(shí)間

　　短-溫度范圍(典型值)

　　-40至+150℃(典型值)

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